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德aixACCT铁电综合测试系统

点击次数：442 发布时间：2020/12/22 10:22:46

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公司名称：上海非利加实业有限公司型号：TF-2000 生产地址：中国大陆已获点击：442 简单介绍：德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统
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详细内容

TF-2000德aixACCT铁电综合测试系统
德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统

产品特点

产品参数

产品介绍

1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

6.可与原子力显微镜联用，对微区或Nanoscale的铁电、压电性能进行测试仪器介绍德aixACCT公司生产的TF Analyzer 2000铁电分析仪是上的电子材料电特性参数测量仪器。该仪器为完*全模块化设计，不同的模块对应不同的电特性测量方式，如：DRAM模块可研究超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性; RELAXATION模块可测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应; FERROELECTRIC HYSTERESIS模块测试铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性; PULSE SWITCHING模块提供在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿。

德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统

产品特点

产品参数

产品介绍

1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

产品特点

产品参数

产品介绍

1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

德aixACCT TF-2000铁电综合测试系统

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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产品参数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

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4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

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5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

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4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

产品特点

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

产品特点

产品参数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

产品特点

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

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9.阻抗分析

10.压电系数测试

12.热释电性能测试等

主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

产品特点

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

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5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

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7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

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主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

5.测量小信号材料的压电系数与介电常数

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1.电滞回线测试频率高可达1MHz

2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

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7.漏电流测试

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10.压电系数测试

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主要特点 1.超晶格材料在方波脉冲电压激励下的自漏电特性

2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

3.铁电材料的电滞回线(动态与静态)、漏电流、压电等特性

4.在操作条件下记录单元对电容测试芯片直接存取的仿

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2.疲劳测试频率高可达20MHz

3.铁电材料漏电流的测试大值可达100mA

4.测试频率低至1mHz

5.测量样品的尺寸可小至200x200nm

6.脉冲测试

7.漏电流测试

8.损耗测试

9.阻抗分析

10.压电系数测试

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2.测量记录在薄膜样品上施加阶跃电压时的电流响应

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更新时间：2024/4/19 11:52:20

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