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单晶材料X射线晶片定向仪
点击次数:252 发布时间:2020/12/28 11:02:43
公司名称:上海非利加实业有限公司
型 号:2991系列
生产地址:中国大陆
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简单介绍:
详细内容
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪应用范围:
晶片的偏差角测定;
半导体Wafer的方位测定;
晶体Ingod的切割面测定;
各种半导体材料的方位测定;
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
991系列单晶材料X射线晶片定向仪半导体评价测定系列
·晶体、半导体材料的方位测定;
·精度高、使用寿命长;
·丰富多彩的附件。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪应用范围:
晶片的偏差角测定;
半导体Wafer的方位测定;
晶体Ingod的切割面测定;
各种半导体材料的方位测定;
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
991系列单晶材料X射线晶片定向仪半导体评价测定系列
·晶体、半导体材料的方位测定;
·精度高、使用寿命长;
·丰富多彩的附件。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪应用范围:
晶片的偏差角测定;
半导体Wafer的方位测定;
晶体Ingod的切割面测定;
各种半导体材料的方位测定;
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
991系列单晶材料X射线晶片定向仪半导体评价测定系列
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晶片的偏差角测定;
半导体Wafer的方位测定;
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各种半导体材料的方位测定;
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
991系列单晶材料X射线晶片定向仪半导体评价测定系列
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·精度高、使用寿命长;
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晶片的偏差角测定;
半导体Wafer的方位测定;
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各种半导体材料的方位测定;
Orientation-Flat的测定。
2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
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X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
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2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
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2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
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检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
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入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
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2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
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检测器:SC;
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入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
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入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
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2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
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样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
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2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
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2991系列单晶材料X射线晶片定向仪主要规格:
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检测器:SC;
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入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
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X射线防护罩:(option)。
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X射线发生器:30KV-5mA(max) Cu;
检测器:SC;
测角精度:±30s(2991F2) ±0.01°(2991G1);
角度表示:数字表示(度、分、);
入射狭缝:0.05 0.1 0.2mm 3种;
样品尺寸:max 6英寸(2991F2) max8英寸(2991G2);
X射线防护罩:(option)。
991系列单晶材料X射线晶片定向仪半导体评价测定系列
·晶体、半导体材料的方位测定;
·精度高、使用寿命长;
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更新时间:2024/4/19 11:52:31
标签:2991系列单晶材料X射线晶片定向仪
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